一、并行测试：提升验证效率的关键

　　传统的半导体老化测试往往采用单工位串行测试方式，即一次只能测试一个批次或一种类型的产品。这种方式不仅时间长，而且难以满足大规模生产中对验证的需求。半导体多工位并行老化测试Chamber的出现，改变了这一局面。通过集成多个单独测试工位，实现了对多个产品或批次的同步测试，大幅提升了验证效率。

　　每个测试工位均配备单独的温湿度控制系统，能够准确模拟不同的环境条件，确保测试结果的准确性与可重复性。这种设计使得制造商可以同时对多种产品进行不同条件下的老化测试，无需频繁更换测试样品或调整测试参数。

　　二、多任务处理：灵活应对多样化需求

　　半导体产品的多样性与复杂性对测试设备提出了更高要求。不同产品可能需要在不同的温度、湿度条件下进行老化测试，以评估其在各种苛刻环境下的性能表现。半导体多工位并行老化测试Chamber通过多任务处理能力，轻松应对这一挑战。

　　测试Chamber的操作界面通常配备先进的软件控制系统，允许用户根据实际需求灵活设置各工位的测试参数。无论是高温高湿、低温干燥还是其他复杂环境条件，均可通过软件轻松实现。这种灵活不仅提高了测试设备的利用率，还使得制造商能够更评估产品的环境适应性，确保产品在实际应用中正常使用。

　　三、可靠性与稳定性：保障测试结果的准确性

　　在半导体老化测试中要点是测试设备的可靠性与稳定性。任何微小的波动或偏差都可能对测试结果产生影响，进而误导产品设计与生产决策。半导体多工位并行老化测试Chamber在设计与制造过程中，考虑了这些因素。设备采用高品质的材料与组件，确保长期运行的稳定性与耐用性。同时，通过严格的测试与校准流程，确保每个测试工位的温湿度控制系统均能达到高精度要求。此外，设备还配备完善的故障诊断与预警系统，能够实时监测设备运行状态，及时发现并处理潜在问题，确保测试过程的连续性与准确性。

　　四、在半导体行业中的应用

　　半导体温湿度复合老化测试箱在芯片研发、制造及品质控制中应用广泛，在研发阶段，通过多工位并行测试快速验证芯片可靠性，为设计优化提供数据支撑，缩短开发周期；在量产环节，批量测试能力可严格筛选早期失效产品，确保产品品质；针对汽车电子、工业控制等长寿命要求的芯片，系统通过加速老化模拟长期使用工况，为产品评估提供科学依据。

半导体多工位并行老化测试Chamber以其多任务处理能力的并行测试方式以及可靠稳定的性能表现，为半导体制造商提供了产品验证工具。不仅加速了产品验证流程，缩短了上市周期，还提高了产品质量的稳定性与可靠性。

芯片老化测试箱

芯⽚⽼化测试箱/IC老化试验箱是⼀款专⻔⽤于模拟芯⽚在极端环境下⼯作状态的设备，通过精确控制温度、湿度等环境参数，模拟芯⽚在实际使⽤中可能遇到的⾼温、⾼湿、⾼应⼒等极端条件，加速芯⽚的⽼化过程，通过这种⽅式，可以在短时间内筛选出早期失效的芯⽚，优化设计⽅案，提升产品良率，确保芯⽚在⻓期使⽤中的稳定性和可靠性。

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双通道系列 Dual Channel Chiller

FLTZ系列双通道Chillers主要用于半导体制程中对反应腔室温度的精准控制，公司在系统中应用多种算法（PID、前馈PID、无模型自建树算法），显著提升系统的响应速度、控制精度和稳定性。

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单通道系列 Single Channel Chiller

FLTZ系列单通道Chillers主要应用与半导体生产过程中及测试环节的温度精准控制，公司在系统中应用多种算法（PID、前馈PID、无模型自建树算法），实现系统快速响应、较高的控制精度。

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三通道系列 Triple Channel Chiller

FLTZ系列三通道Chillers主要应用与半导体生产过程中及测试环节的温度精准控制，系统支持三个通道独立控温，每个通道有独立的温度范围、冷却加热能力、导热介质流量等。

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动力电池温度循环试验箱

动力电池温度循环试验箱

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恒温恒湿试验箱

适用范围 本系列试验箱可以模拟各种温湿度环境，适用于对产品进行高低温试验，湿热试验等。本试验箱具有极宽的温湿度范围和极高的控制精度。可以满足国家标准GB及IEC相关测试标准。可程式恒温恒湿试验箱用于试验各种材料耐热、耐寒、耐干、耐湿性能。适合电子、电器、通讯、仪表、车辆、塑胶制品、金属、食品、化学、建材、医疗、航天等制品检测质量之用。 …

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快速温变试验箱

适用范围 本试验箱适用于环境应力筛选试验，通过对产品进行环境应力筛选，加速发现产品的设计缺陷，提高产品的可靠度。很多工业领域都已经认识到，高速温度变化循环试验可以找出已经进入生产测试阶段的不可靠的系统。它已经作为改进质量的一种标准方法，有效延长产品的正常工作寿命。 产品特点 Product Features …

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两箱式试验箱

适用范围 本电池试验箱是专门针对不同种类的动力电池测试需要，在标准环境箱的基础上，根据不同的严酷等级配备安全防护功能，最大程度保证人员，财产及设备的安全。 产品特点 Product Features 产品参数 Product Parameter 行业应用 APPLICATION 航空航天材料|试验装置控温解决方案 在…

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两箱冲击试验箱

适用范围 两箱式冷热冲击试验箱在进行高低温冲击试验时测试篮是移动的，主要是靠测试篮在高温区和低温区中上下移动来完成高低温冲击转换，两箱式比三箱式的冲击回复时间更短。 产品特点 Product Features 产品参数 Product Parameter 行业应用 APPLICATION 航空航天材料|试验装置控温解…

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左右多层试验箱

适用范围 左右多层试验箱提供温度范围-80℃~+150℃宽温度范围控温，空载温度均匀度±1℃，温度精度±0.1℃，满足多样化场景需求。 产品特点 Product Features 产品参数 Product Parameter 行业应用 APPLICATION 航空航天材料|试验装置控温解决方案 在航空航天领域，材料的性能直接关系到飞行…

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步入式试验箱

适用范围 本试验箱适用于整机或大型零部件的低温、高温、高低温变化、恒定湿热、高低温交变湿热等试验。可根据用户要求改变工作室尺寸与功能，采用拼块式箱体，造型美观大方，科学的风道设计，能满足不同客户的需求。 产品特点 Product Features 产品参数 Product Parameter 行业应用 APPLICATIO…

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面板系列Panel Chiller

面板系列Chiller应⽤于刻蚀、蒸镀、镀膜⼯艺等，支持⼤流量⾼负载，确保极端⼯况下持续稳定运⾏；支持冷却⽔动态调节系统，可根据环境温度与设备热负荷，实时调节⽔温。

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帕尔贴Chiller

冠亚恒温LNEYA 帕尔贴热电制冷器CHILLER温度范围从-20到90℃，专为半导体行业度身定制； 基于经过实践验证的帕尔贴热传导原理，帕尔贴温度控制系统能够为等离子刻蚀应用提供可重复性的温度控制；

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负压型控温机组

负压型控温系统通过负压环境下的流体循环实现精准温度控制，原理：通过负压发⽣器驱动导热介质（⽔/油）循环，避免泄漏⻛险，适⽤于各种类型板卡冷却。

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FLTZH双通道高温Chiller

双通道高温Chiller⽤来满⾜半导体⾼温测试需求。介质温度最⾼可达250℃；以特殊的⼯艺⽅式，保证系统⾼温⼯况下的控温精度。

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