半导体刻蚀直冷机etch chiller的控温技术及在刻蚀中的关键应用
半导体制造工艺对温度控制的准确性有着严苛的要求,特别是在刻蚀环节,温度波动会直接影响刻蚀速率、选择比和线宽精度。刻蚀直冷机etch chiller作为一种直接将制冷剂输送至目标控温元件的设备,在半导体刻蚀领应用广泛。

一、热力学原理与系统构成
刻蚀直冷机etch chiller的工作基础建立在蒸气压缩制冷循环之上,但其技术实现路径与传统间接冷却方式存在本质差异。制冷系统通过外界功实现热量从低温物体向高温物体的转移。直冷机的核心在于省却了传统冷却系统中载冷剂这一中间传热介质,采用制冷剂直接蒸发吸热的原理,在目标控温元件内部完成相变换热过程。
从系统构成来看,刻蚀直冷机etch chiller包含四大功能模块:压缩单元采用多级复叠技术,通常由谷轮涡旋压缩机组成,负责将气态制冷剂加压至高温高压状态;冷凝单元通过风冷或水冷方式使制冷剂液化;膨胀机构采用电子膨胀阀实现制冷剂节流降压;蒸发单元则直接集成在刻蚀设备的冷却板内部。这种结构设计特别适合于半导体刻蚀设备中换热面积有限但热负荷较高的应用场景。
二、准确控温机制分析
半导体刻蚀工艺通常要求温度控制精度达到规定范围以内,刻蚀直冷机etch chiller通过三项关键技术实现这一目标:在传感器配置方面,系统在蒸发器进出口、压缩机吸排气端等多点布置PT100温度传感器和压力变送器,实时监测制冷剂状态参数;热力学设计方面,采用混合制冷剂,优化蒸发温度与刻蚀工艺需求的匹配度。
刻蚀直冷机etch chiller通过”高温高压制冷剂旁通回路”实现快速升温功能,解决了传统系统在变温工况下响应滞后的问题。这种设计使系统在高温运行状态下仍能迅速切换至低温模式,升降温速率较间接冷却系统有所提升,满足了刻蚀工艺中对快速温度切换的需求。
三、半导体刻蚀中的技术适配性
在干法刻蚀应用中,反应腔内的等离子体产生大量瞬时热负荷,传统水冷系统因热容限制常出现温度超调。
湿法刻蚀对温度要求更严谨,微小的偏差可能导致刻蚀速率变化超过规定范围内。刻蚀直冷机etch chiller的蒸发温度闭环控制配合变频泵调节冷媒流量,确保了槽液温度的均匀性。特别在深硅刻蚀等长时间工艺中,系统内置的膨胀罐维持了制冷剂流量稳定,避免了因热负荷波动引起的刻蚀差异。
四、系统可靠性与维护特性
半导体制造对设备稳定性的要求较为严格,刻蚀直冷机etch chiller从三个方面保障持续运行:在冗余设计上,关键部件如压缩机、水泵采用并联配置,支持在线切换;安全防护方面设置高压保护、相序保护和漏液检测等多重机制。
实际运行数据显示,在连续工作条件下,刻蚀直冷机etch chiller配备的7英寸触摸屏可记录温度曲线和警告信息,便于集成到半导体工厂的监控系统。这种设计既满足了晶圆厂对设备可追溯性的要求,也为预防性维护提供了数据支持。
刻蚀直冷机etch chiller凭借其直接换热的原理优势,在半导体制造领域应用广泛。从热力学角度看,该系统规避了传统冷却方式中的传热中间环节,实现了更快的热响应速度和更高的温度稳定性,以满足半导体工业不断演进的生产需求。

双通道系列 Dual Channel Chiller
FLTZ系列双通道Chillers主要用于半导体制程中对反应腔室温度的精准控制,公司在系统中应用多种算法(PID、前馈PID、无模型自建树算法),显著提升系统的响应速度、控制精度和稳定性。
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单通道系列 Single Channel Chiller
FLTZ系列单通道Chillers主要应用与半导体生产过程中及测试环节的温度精准控制,公司在系统中应用多种算法(PID、前馈PID、无模型自建树算法),实现系统快速响应、较高的控制精度。
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三通道系列 Triple Channel Chiller
FLTZ系列三通道Chillers主要应用与半导体生产过程中及测试环节的温度精准控制,系统支持三个通道独立控温,每个通道有独立的温度范围、冷却加热能力、导热介质流量等。
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LQ系列气体冷却装置
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AET系列气体快速温变测试机
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Dryer气体干燥器
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面板系列Panel Chiller
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ETCU换热控温单元
ETCU换热控温单元冷却⽔温度范围:+5℃〜+90℃,控温精度±0.05℃;系统⽆压缩机,通过换热降温;⽀持⾮标定制,⽀持PC远程控制;采⽤西⻔⼦/霍尼⻙尔调节阀控制冷却⽔流量;最⼤循环量时,控温温度与冷却⽔温度温差15°C。
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