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半导体Chiller设备温控技术在晶圆制造工艺中的应用实践

  在晶圆制造过程中,半导体Chiller设通过制冷与加热的动态调节,为晶圆制造各环节提供稳定的温度环境,其核心作用是维持工艺过程中温度的准确控制,避免因温度波动导致的图形转移偏差、薄膜均匀性下降等问题。

  一、半导体Chiller设备的温度控制原理

  半导体Chiller设备的温度控制基于闭环反馈调节机制,通过检测 – 计算 – 执行的循环实现目标温度的稳定。其核心构成包括温度传感器、控制器、制冷系统与加热系统:温度传感器实时采集工艺环境的温度信号,传输至控制器后与设定值对比,控制器根据偏差值调节制冷或加热输出,当实际温度高于设定值时,制冷系统启动,通过制冷剂的相变吸热降低温度;当实际温度低于设定值时,加热系统通过压缩机制热或电加热补充热量。

  二、半导体Chiller设备在晶圆制造关键工艺中的应用

  1、光刻工艺中的温度控制

  光刻工艺对温度变化要求较高,光刻胶的涂布、曝光与显影均需在稳定温度下进行。Chiller设备通过控制光刻胶涂布台的温度,确保胶层厚度均匀,若温度波动过大,可能导致光刻胶黏度变化,引发涂层厚薄不均。在曝光环节,Chiller设备为掩模版与晶圆载台提供恒温环境,避免因热胀冷缩导致的套刻精度偏差。其控温精度可满足光刻工艺对温度稳定性的要求,确保曝光图形的尺寸一致性。

  2、刻蚀工艺中的温度控制

  刻蚀过程中,反应腔的温度直接影响刻蚀速率与剖面形态。Chiller设备通过控制反应腔壁与晶圆载台的温度,维持等离子体反应的稳定性:温度过高可能导致刻蚀剂过度反应,造成图形过刻;温度过低则会降低反应效果,影响刻蚀效率。此外,Chiller设备的动态控温能力可应对刻蚀过程中的热负载变化,当晶圆表面因等离子体轰击产生热量时,设备能快速调节制冷量,避免局部温度升高导致的刻蚀均匀性下降。

  三、半导体Chiller设备温度控制的核心技术要求

  1、控温精度与稳定性

  晶圆制造工艺通常要求温度控制精度在合理范围以内。Chiller设备通过成熟的控制算法实现这一要求:算法根据温度变化趋势提前调节输出,减少滞后带来的波动。同时,设备配备高精度温度传感器,结合实时数据采集与快速响应的执行机构,确保在负载变化时仍能维持温度稳定。

  2、温度范围与调节速率

  不同工艺对温度的需求差异较大,Chiller设备需覆盖从低温到高温的宽区间。刻蚀工艺需在低温环境下进行,而薄膜退火则可能需要苛刻的高温。此外,工艺切换时的温度调节速率需匹配生产节拍,快速升降温能力可缩短工艺准备时间,提高设备利用率。Chiller设备通过优化制冷与加热系统的功率配置,在保证控温精度的前提下,实现温度的快速切换。

  3、介质适应性与系统安全性

  晶圆制造中常用的导热介质包括硅油、乙二醇水溶液等,Chiller设备需根据温度范围选择适配介质:高温场景则使用稳定性更好的硅油,设备的循环系统采用耐腐蚀材料,避免介质与管路反应产生杂质污染晶圆。同时,系统具备多重安全保护功能,防止因介质泄漏或设备故障影响生产安全。

  半导体Chiller设备通过准确、稳定的温度控制,为晶圆制造的各环节提供了基础保障。其在控温精度、温度范围与系统安全性上的设计,契合了晶圆制造对工艺环境的严苛要求。

接触式高低温测试机

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接触式⾼低温测试机应⽤温度范围-75~+200℃,⽀持从极低温到⾼温的快速升温和降温,最快速率可达到75℃/min,能够精确的控制温度,误差通常在±0.2℃以内。

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精密恒温恒湿机组

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双通道系列 Dual Channel Chiller

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ZLTZ直冷控温机组Chiller

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单通道系列 Single Channel Chiller

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FLTZ系列单通道Chillers主要应用与半导体生产过程中及测试环节的温度精准控制,公司在系统中应用多种算法(PID、前馈PID、无模型自建树算法),实现系统快速响应、较高的控制精度。

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三通道系列 Triple Channel Chiller

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ZLJ/SLJ系列超低温直冷机

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真空控温卡盘Chuck

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AES系列热流仪

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Dryer气体干燥器

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面板系列Panel Chiller

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帕尔贴Chiller

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