电子制造制程降温:冠亚 CHILLER 气体制冷应用
电子制造制程中,封装、成型、焊接等多个环节会产生大量热量,若温度无法及时调控,会影响产品成型质量与性能稳定性,冠亚研发的CHILLER气体制冷系列,专为电子制造制程降温设计,依托稳定的制冷换热技术,为电子制造全流程提供jing准降温解决方案,以下详细介绍其应用细节。

冠亚CHILLER气体制冷系列涵盖LQ、AI、AES、AET四大子系列,可根据电子制造不同制程的降温需求,灵活适配机型,覆盖常规降温、高精度降温、快速温变降温、定制化降温等多种场景,适配电子元器件、电路板、芯片封装等各类产品的制程需求。
在电子元器件成型制程中,注塑、压铸等工艺会产生持续热量,导致模具温度升高,影响元器件成型精度,冠亚LQ系列CHILLER气体制冷设备可输出稳定的低温气源,接入模具换热管路,快速带走模具热量,维持模具温度恒定,减少成型瑕疵,适配批量元器件生产的连续降温需求。
在芯片封装制程中,封装胶固化过程对温度要求严格,温度过高会导致封装胶老化,温度过低则会影响固化效果,冠亚AI系列CHILLER气体制冷设备可实现高精度恒温控制,输出温度稳定的气源,控制封装工位环境温度,保障封装质量,适配gao端芯片封装的严苛降温需求。

在电子制造量产车间,多个工位并行生产会产生大量热量,需实现规模化降温,冠亚AET系列CHILLER气体制冷设备支持大流量气体处理,可同时为多个生产工位提供降温气源,适配量产车间的集中降温需求,设备可根据车间工况定制流量、压力参数,减少现场改造工作量。
此外,冠亚CHILLER气体制冷系列均支持自动化联动控制,可接入电子制造车间自动化系统,实现降温流程与生产流程协同运行,设备配备完善的运行监测与防护功能,可实时监测温度、流量等参数,保障设备长时间连续运行,为电子制造制程降温提供稳定可靠的支撑。

AET高速光模块热流仪
适用范围 运用于半导体测试平台的高低温测试。电子设备高温低温恒温测试冷热源。非接触测试:避免机械接触对模块的压力,更适合某些精密或特殊封装模块;热场均匀:流动空气包裹模块,温度梯度小;无磨损风险:没有接触式TEC的反复压接磨损问题;设备小5,方便移动,插电即用;可与测试机进行高度交互,可控工件Tc和Tj(需给入芯片温度信号) 产品…
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KRY系列冷热控温控流量系统
适用范围 测试的物件连接到一个测试平台适配器上,部件内部通过乙二醇水溶液来冷却和加热测试。测试部件需要经历一个特定的温度变化曲线,并且记录温度的变化。温度变化的范围通常从-40到100度。(可扩展到150度)进行耐受性测试时,通常会循环进行。 产品特点 Product Features 产品参数 Product Parameter …
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KRY系列多通道水冷机Chiller
适用范围 测试的物件连接到一个测试平台适配器上,部件内部通过乙二醇水溶液来冷却和加热测试。测试部件需要经历一个特定的温度变化曲线,并且记录温度的变化。温度变化的范围通常从-40到100度。(可扩展到150度)进行耐受性测试时,通常会循环进行。 产品特点 Product Features 产品参数 Product Parameter …
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KRY变频系列新能源冷水机
适用范围 采⽤变频涡旋压缩机,根据实际需求⾃动调整运转速度,提供所需的制冷能⼒,与传统的定频压缩机相⽐,显著降低能源消耗,提⾼能效性能。 产品特点 Product Features 产品参数 Product Parameter KRYZ变频系列 -40℃~+100℃ KRYZ变频双通道系列 所有设备额定测试条件:⼲球温度:20℃;湿球温度:16℃…
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电机测试用油冷却系统
适用范围 测试的物件连接到一个测试平台适配器上,部件内部通过乙二醇水溶液来冷却和加热测试。测试部件需要经历一个特定的温度变化曲线,并且记录温度的变化。温度变化的范围通常从-40到100度。(可扩展到150度)进行耐受性测试时,通常会循环进行。 产品特点 Product Features 产品参数 Product Parameter …
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LQ系列气体冷却装置
适用范围 应⽤于将⽓体(⽆腐蚀)降温使⽤:如⼲燥压缩空⽓、氮⽓、氩⽓等常温⽓体通⼊到LQ系列设备内部,出来的⽓体即可达到⽬标低温温度,供给需求测试的元件或换热器中。 产品特点 Product Features 产品参数 Product Parameter 1.额定测试条件:⼲球温度:20℃;湿球温度:16℃。进…
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