半导体全自动控温老化设备提升芯片可靠性测试效能

2025年7月31日 80

芯片可靠性测试是半导体产业链中确保产品质量的关键环节之一，通过模拟苛刻环境加速芯片老化过程，可在短时间内筛选出潜在问题，为产品设计优化和量产良率提升提供数据支撑。

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