半导体温湿度复合老化测试箱在芯片可靠性验证中的应用

2025年8月8日 25

在半导体制造与测试领域，确保芯片在复杂环境下的长期稳定性和可靠性是至关重要的。半导体温湿度复合老化测试箱作为一种关键设备，能够准确模拟高温、低温、高湿等苛刻条件，通过加速老化测试，筛选出早期失效的芯片，从而优化产品设计并提升良率。

查看全文