无锡冠亚AES系列射流式高低温冲击测试机在IC芯片测试中的应用

2026年6月11日 0

无锡冠亚AES系列射流式高低温冲击测试机主要面向芯片、模块、集成电路板、电子元器件等温度冲击测试场景，可为被测对象提供精确、快速、可控的环境温度。设备温度范围覆盖-120℃〜+300℃，控温精度可达±0.1℃，适用于IC前期开发验证、电性能测试、失效分析和可靠性评估...

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