半导体多工位并行老化测试Chamber的在芯片验证中的应用

2025年8月8日 21

在半导体行业的快速发展中需要产品验证的环节。如何准确地评估半导体产品在各种苛刻条件下的性能与可靠性，成为制约产品上市速度与质量的关键因素。半导体多工位并行老化测试Chamber作为一种创新性的测试设备，通过多任务处理能力，实现了对多批次、多类型产品的同步...

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